采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可获得最精确的PDL值。
采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可获得最精确的PDL值。
PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650 nm,无需波长校准,比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口,用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性,尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比,PDL-201具有较快的测量速度,较大的测量动态范围,更明亮的显示屏,以及用于集成的附加模拟输出端口。
备注:数据在23±5°C温度下,10组平均值所得。精确的偏振相关损耗测试还取决于测试设置。输入功率 ≥0 dBm,用户自定义功率计测量模式。